PCB鍍層厚度熒光光譜儀技術(shù)指標(biāo)

元素分析范圍從鈉（Na）到鈾（U） 
可進(jìn)行測試模式之間的轉(zhuǎn)換，提高測試的效率 
可對10個樣品進(jìn)行自動切換測試 
一次可同時分析多幾十種元素 
分析檢出限可達(dá)0.1ppm
分析含量一般為0.1ppm到99.9％ 
任意多個可選擇的分析和識別模型 
相互獨立的基體效應(yīng)校正模型 
多變量非線性回收程序 
長期工作穩(wěn)定性為0.1％ 
溫度適應(yīng)范圍為15℃至30℃ 
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源

標(biāo)準(zhǔn)配置

超銳X光源和樣品激發(fā)機構(gòu) 
上蓋電動開關(guān)的大容量樣品腔 
可自動切換的準(zhǔn)直器，濾光片 
高清晰CCD攝像頭 
SDD探測器 
數(shù)字多道采集處理系統(tǒng) 
高低壓電源 
進(jìn)口400W端窗光管油冷散熱系統(tǒng)，具有自動控溫功能
樣品自動切換系統(tǒng) 
全自動真空系統(tǒng) 
專業(yè)X熒光分析軟件 
計算機及噴墨打印機 
外觀尺寸： 752（W）x759（L）x 988（H）
樣品腔尺寸：￠376×50 mm 
重量：小于250Kg

PCB鍍層厚度熒光光譜儀性能特點

特殊光路系統(tǒng) 
采用特殊的光路系統(tǒng)，可滿足不同基體中痕量元素的測量，提高信噪比，降低檢出限。

400W大功率X光源 
400W大功率光源使難以激發(fā)的痕量元素獲得更高的計數(shù)率，比普通EDXRF儀器的元素檢出限降低一個數(shù)量級，更加適合痕量元素的檢測。

數(shù)字多道技術(shù) 
采用新數(shù)字多道技術(shù)，儀器可探測的計數(shù)率可高至100kcps,提高了儀器的測量精度,縮短了測量時間。

油冷散熱系統(tǒng) 
油冷散熱系統(tǒng)，保證了大功率X光源的散熱，使儀器的運行更加穩(wěn)定。

光閘系統(tǒng) 
光閘系統(tǒng)，保證X光源的穩(wěn)定性，同時提升X光管使用壽命。

抽真空系統(tǒng) 
抽真空系統(tǒng)，可以滿足輕元素的測量。

自動進(jìn)樣系統(tǒng) 
自動進(jìn)樣系統(tǒng)，可以一次連續(xù)檢測十二個樣品，大大提高了測試人員的工作效率。

側(cè)試模式

普通模式：為普通儀器的常規(guī)測試。

超銳模式：使用*超銳光路系統(tǒng)，使用的原理主要能實現(xiàn)兩大功能，降低背景，提高檢出能力。

一、如圖一所示，下圖為測土壤中的V（綠）和Cr（紅）。實譜為超銳模式，測得的譜圖，紅色虛譜為普通模式譜圖。由圖可看出，對于關(guān)注元素。超銳模式明顯出峰，而普通模式幾乎沒有出峰。

二、下圖二所示，為測土壤中的Zr，實譜為超銳模式所測譜圖，紅色虛譜為普通模式所測譜圖。超銳模式所測得的Zr有效峰背比強度為210.05。普通模式所測得的Zr在相同測試條件下有效峰背比強度為155.72。由圖可以看出超銳模式比普通模式出峰要好，而且超銳模式降低了背景。

從以上譜圖一可以看出，我們在進(jìn)行常規(guī)測試時。由于土壤中的V、Cr含量低。是無法檢測出其含量的。譜圖二中，雖然Zr能檢測出峰，但是其背景也比較高，對測試的結(jié)構(gòu)影響比較大。而在使用天瑞儀器*超銳光路系統(tǒng)，能降低背景，檢測出低含量的元素，提高儀器的檢出能力。從而提高儀器的整體測試效果。

應(yīng)用領(lǐng)域

PCB鍍層厚度熒光光譜儀不僅可滿足中心實驗室和分包實驗室的分析需要，而且適用于環(huán)境監(jiān)測、化工、采礦、鑒定、食品、電子、水泥和冶金行業(yè)。