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XAU-4C光譜分析儀性能優(yōu)勢：1.微小樣品檢測：最小測量面積0.03mm²（加長測量時間可小至0.01mm²）2.變焦裝置算法：可改變測量距離測量凹凸異形樣品，變焦距離可達0-30mm3.EFP算法：Li(3)-U(92)元素的涂鍍層，多層多元 素，甚至有同種元素在不同層也可精準測量。 4.*解譜技術(shù)：減少能量相近元素的干擾，降低檢出限。

XTD(B)鍍層測厚儀，專業(yè)表面處理檢測解決方案： XTD系列測厚儀，專用于檢測各種異形件，特別是五金類模具、衛(wèi)浴產(chǎn)品、線路板以及高精密電子元器件表面處理的成分和厚度分析。 儀器優(yōu)點： 1. 分析精度* 2. 分析范圍廣泛

XAU光譜分析儀是一款設(shè)計結(jié)構(gòu)緊湊，模塊精密化程度*的光譜分析儀，采用了下照式C型腔體設(shè)計，是一款一機多用型光譜儀。 應(yīng)用核心EFP算法和微光聚集技術(shù)，既保留了專用測厚儀檢測微小樣品和凹槽的性能，又可滿足微區(qū)RoHS檢測及成分分析。 被廣泛用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來料檢驗和對生產(chǎn)工藝控制的測量使用。

XTU-BL X熒光光譜儀是一款設(shè)計結(jié)構(gòu)緊湊，模塊精密化程度*的鍍層測厚儀，采用了下照式C型腔體設(shè)計，不但可以測量各種微小樣品，即使大型超出樣品腔尺寸的工件也可測量，是一款測量涂鍍層成分及厚度性價比高、適用性強的機型。 測量面積：最小0.002mm²鍍層分析：23層鍍層24種元素儀器特點：可手動變焦儀器優(yōu)勢：同元素不同層分析

XTU-50B X射線熒光譜儀 XTU系列測厚儀雖然結(jié)構(gòu)緊湊，但是都有大容量的開槽設(shè)計樣品腔，即使超過樣品腔尺寸的工件也可以測試。 搭配微聚焦射線管和*光路設(shè)計，以及變焦算法裝置，可測試極微小和異形樣品。 檢測78種元素鍍層·0.005um檢出限·小測量面積0.002mm2·深凹槽可達90mm。

出租出售X-RAY測厚儀 XTU系列測厚儀雖然結(jié)構(gòu)緊湊，但是都有大容量的開槽設(shè)計樣品腔，即使超過樣品腔尺寸的工件也可以測試。 搭配微聚焦射線管和*光路設(shè)計，以及變焦算法裝置，可測試極微小和異形樣品。